在介紹各種水分測量方法之前，有必要對水分含量進行定義。水分含量通常表示為總產品（濕基）或幹產品（幹基）的重量百分比。

　　濕基水分含量：

　　M = 100 x (濕重-幹重) / 濕重

　　幹基水分含量：

　　M = 100 x (濕重-幹重) / 幹重

　　從上述公式來看，濕基水分含量不能超過100%。幹基水分可以超過100%，是一個非線性函數。

　　水分含量可以通過許多技術來確定。這些技術可分為兩大類，即一級和二級測量。

　　一級水分檢測技術包括直接對水含量進行化學測定，通常是通過從產品中提取水分。

　　所有的一級方法都是破壞性的，而且很耗時。一級方法是離線進行的，但通常非常準確。小的樣品量可能不能充分代表散裝產品。

　　最常見的主要方法是失重法，即對樣品進行稱重，幹燥至不再失重，然後重新稱重。

　　其他方法包括卡爾-費歇爾滴定法。所有離線一級方法的準確性都取決於實驗室儀器的準確性和實驗室人員的技能。

　　由於離線方法需要從工藝中提取產品樣本，所以采樣方法必須提供一致的產品樣本進行測試。

　　二級水分檢測技術測量的是變量（水分）的一種屬性，而不是直接測量變量。所有的連續水分分析儀都利用二次測量原理，並且必須根據一次水分檢測標準技術進行校準。它們具有連續或快速采樣測量的優勢，可用於實時過程監測和控製。

　　如果沒有連續測量能力，一個典型的過程將通過提取產品樣本和進行實驗室分析來控製。這些方法很耗費時間。等到得到結果時，過程很可能已經發生了很大的變化。

　　在其最簡單的形式中，連續水分分析儀將提供實驗室采樣之間的趨勢信息，即使沒有校準。在這種形式下，儀器是一個有用的設定點控製器，在每次實驗室取樣後可以調整過程設定點。

　　有許多在線水分測量技術。介電測量和近紅外反射是兩種已經被證明在許多行業是準確和可靠的技術。

　　射頻電介質技術

　　這種方法依靠的是水相對於大多數固體的高介電性。

　　已經開發了許多技術來確定電介質，包括射頻、微波和時域反射儀。為了測量材料的相對電介質，有必要將材料與傳感電路進行電耦合。這可以通過將材料放在兩個平行的電極之間來完成，但這並不適合在線應用。如果傳感電路在無線電頻率下工作，就很容易通過材料傳播射頻能量，從而在沒有物理接觸的情況下耦合到產品。平麵流蘇場電極提供了一個單麵的測量結構，對工藝的阻礙較小。

　　固體產品的電學類比是一個電容與漏電電導率的並聯。這些成分都會受到濕度的影響，但電介質是以一種非常可預測的方式聯係在一起的，而損耗因子則不是。結合起來的成分代表了一個複雜的阻抗，可以很容易地測量，但它可能會受到除濕氣以外的其他變量的影響。

　　真正的電介質濕度儀器是罕見的，因為大多數低成本的儀器沒有嚐試分離電介質和損耗成分。最低成本的儀器甚至很少或沒有嚐試測量具有任何長期穩定性和可重複性的組合阻抗。

　　1.它是一種穿透性測量，可以測量非均質產品。

　　2.它有一個大的測量區域，可以為產品提供更有代表性的、批量的平均水分。

　　3.與其他在線技術相比，它是相對便宜的。

　　4.它非常可靠和堅固，沒有活動部件的磨損或故障。

　　5.各種機械傳感器的設計適合廣泛的工藝條件，並可在高溫環境下使用。

　　紅外線技術

　　近紅外反射技術（NIR或IR）是一種廣泛使用的在線水分測試技術。它的流行在很大程度上是由於它的應用很容易。

　　光源（通常是石英鹵素燈泡）被準直並被過濾成特定的波長。安裝在旋轉輪上的過濾器將光切成一係列特定波長的脈衝。過濾後的光束被引導到待測產品的表麵。一部分光被反射到一個檢測器（通常是硫化鉛）。特定波長的光會被水吸收。如果濾光器的選擇使一個波長被水吸收（樣品光束），一個波長不受水的影響（參考光束），那麽兩個反射波長的振幅比將與產品中的水量成正比。該比率技術消除了產品距離和光源老化的影響。

　　1.易於應用。通常安裝在產品上方6到10英寸處。適度的產品高度變化對測量沒有什麽影響。

　　2.小的點狀測量區域與掃描框架相結合，提供產品輪廓。

　　3.可以選擇特定的波長來測量除水分以外的其他變量。